青岛天源达石墨有限公司优质石墨生产企业

收藏网站|联系我们全国热线电话 13553089299

热门关键词:鳞片石墨超细石墨可膨胀石墨石墨烯钒氮合金石墨铸造石墨粉末冶金石墨刹车片石墨导电石墨石墨粉

当前位置:首页 > 新闻资讯 > 公司新闻

高导电石墨中的离子诱导缺陷:联合开尔文探针和拉曼显微镜研究

责任编辑: admin 发布时间2019-07-03    点击数:17863 次
      鳞片石墨哪家强?鳞片石墨厂家?鳞片石墨优选天源达。
      碳纳米材料对于未来的传感器和电子产品非常重要。缺陷决定了材料的性质,因此,找到研究纳米尺度缺陷的新方法至关重要。在这种情况下,拉曼光谱(RS)是研究碳纳米材料缺陷的首选工具。另一方面,Kelvin探针力显微镜(KPFM)提供纳米级的结构和表面电位信息。在这里,作者证明了这些方法在研究离子束诱导的石墨缺陷中的协同应用。 KPFM和RS成像用于在1010至1016离子cm-2的各种离子剂量下可视化离子诱导的缺陷。对于较低的离子剂量范围,作者发现RS为石墨中的不同缺陷区域提供了图像对比度,最大剂量为5×1013离子cm-2。对于更高剂量,sp2碳浓度变得如此之小以至于拉曼光谱被宽的无定形碳带所支配。对于该剂量范围,KPFM对比度允许区分缺陷区域。 KPFM中的这种对比源自充当电荷陷阱的sp3碳。结果表明,KPFM和拉曼显微镜为研究碳中缺陷的空间分布提供了有力而必要的组合。
       需要鳞片石墨,请联系我们!

联系我们

24小时服务热线13553089299
  • 手机号码13553089299
  • 公司电话13553089299
  • 企业邮箱tydgraphite@126.com
  • 咨询QQ石墨粉
  • 公司地址青岛莱西市望城工业园